Gen3 – AutoCAF2+

Messgerät zur Erkennung und Überwachung der CAF-Bildung (Conductive Anodic Filaments) innerhalb von Leiterplatten.

Auf Grund der immer höher werdenden Beanspruchungen durch Temperatur, Feuchtigkeit und verschiedenen Spannungen (von bis 1250 Volt in der Elektromobilität) sind CAF-Fehler innerhalb von Leiterplatten ein ernstzunehmende Herausforderungen bei der Entwicklung und dem Design von Leiterplatten. Durch die frühzeitige Erkennung einer möglichen CAF-Bildung bei der Entwicklung von Leiterplatten können Sicherheitsrisiken minimiert und Kosten für Ausfälle im Einsatz reduziert werden.
Mit dem AutoCAF2+ können Teststrukturen auf CAF-Bildung mit verschiedenen Spannungen einfach getestet werden. Es können Messungen bis zu 1250 Volt durchgeführt werden, entsprechend der ISO PASS 19295:2016(E).

Produkteigenschaften

• Messzeit: <10 Sekunden um alle 256 Kanäle zu erfassen, zu messen und abzubilden/darzustellen
• Schnelle Datenverarbeitung: Die Messung pro Kanal dauert weniger als 15 Millisekunden
• Mögliche Spannungen: +1V bis 1250V
• Messbereich: 10⁶Ω bis 10¹⁴Ω
• Messintervalle: Frei auswählbar ab einem Minimum von 60 Sekunden
• Geschirmte Strommesskabel
• Flexibel: Es können alle vorhandenen Testspezifikationen der IPC, IEC, JNC oder anwenderspezifisch eingesetzt werden.
• Zukunftssicheres Design
• Adaptiver und flexibler Softwareeinsatz unter Windows 10
   

Verfügbare Versionen